[发明专利]一种电子元器件的检测设备在审

专利信息
申请号: 202010996199.3 申请日: 2020-09-21
公开(公告)号: CN112285457A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 李飞中 申请(专利权)人: 深圳市环测威检测技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/02;G01R1/02;G01R1/04
代理公司: 东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) 44251 代理人: 周松强
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种电子元器件的检测设备,包括支撑底盒,所述支撑底盒的上侧固定连接有存储盒,所述存储盒的正上方水平转动连接有转盘,所述转盘上端面靠近边沿位置环绕等距固定连接有万能表且万能表上配设有旋转挡位开关,所述万能表所处位置的所述转盘上设置有夹持对接机构,所述转盘上同轴连接有转架,所述万能表的旋转挡位开关与所述转架之间设置有换挡机构。本发明启动电动伸缩杆向下伸长,使得转板压在所有位置的齿轮环上,这样齿轮环的齿体便与齿槽对接,当需要对电子元件进行对应项目的检测时,则启动步进电机带着转板转动进给一定角度,则转板上的齿槽便带着所有的齿轮环转动,使万能表上的旋转挡位开关转动一次,切换万能表的测试挡位。
搜索关键词: 一种 电子元器件 检测 设备
【主权项】:
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