[发明专利]基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置有效
| 申请号： | 202010979020.3 | 申请日： | 2020-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN112083321B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 詹文法;华铭;江健生;蔡雪原;冯学军;彭登辉 | 申请（专利权）人： | 安庆师范大学 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 丁瑞瑞 |
| 地址： | 246133 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置，所述方法包括：自动测试向量生成工具根据导入的电路结构图随机生成针对该电路的测试向量集；根据随机生成的测试向量集，进行电路测试并基于隐马尔可夫模型判断电路是否温度过高；若电路不存在温度过高问题则直接将测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；若电路存在温度过高问题，对测试向量集进行重排序减少测试向量之间的翻转得到更新的测试向量集，将更新的测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；本发明的优点在于：有效控制测试温度，降低了损坏芯片的风险，提高了测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 隐马尔可夫 模型 电路 测试 方法 存储 介质 装置 | ||
【主权项】：
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