[发明专利]一种基于结构约束的多线结构光系统条纹中心线提取方法有效

专利信息
申请号: 202010973290.3 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN112116619B 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 李文国;毛雪忆;罗子欣;侯大猛 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G06T7/13 分类号: G06T7/13;G06T7/66;G06T7/80;G06T5/00;G06F17/11
代理公司: 昆明明润知识产权代理事务所(普通合伙) 53215 代理人: 马海红
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及一种基于结构约束的多线结构光系统条纹中心线提取方法,属于图像处理领域。包括:(1)相机标定,得到相机的内外参数;(2)对CCD工业相机采集到的图片进行滤波处理及边缘提取,得到条纹的像素宽度,粗提取条纹的像素中心线;(3)对于步骤(1)中获得的相机内外参数和步骤(2)中得到的条纹像素宽度,计算条纹的世界坐标宽度和激光器照射到物体上的光斑中心的世界坐标,然后计算激光器发射的光平面交点的世界坐标;(4)得到系统空间结构约束中的中心线偏移量e,并求偏移系数k;(5)求得条纹中心线的图像坐标,并转化为三维坐标用于误差检测。本发明适用于投射发散型多线激光条纹的三维视觉测量系统的中心线条纹的提取。
搜索关键词: 一种 基于 结构 约束 系统 条纹 中心线 提取 方法
【主权项】:
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