[发明专利]一种基于结构约束的多线结构光系统条纹中心线提取方法有效
| 申请号: | 202010973290.3 | 申请日: | 2020-09-16 |
| 公开(公告)号: | CN112116619B | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
| 发明(设计)人: | 李文国;毛雪忆;罗子欣;侯大猛 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
| 主分类号: | G06T7/13 | 分类号: | G06T7/13;G06T7/66;G06T7/80;G06T5/00;G06F17/11 |
| 代理公司: | 昆明明润知识产权代理事务所(普通合伙) 53215 | 代理人: | 马海红 |
| 地址: | 650093 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及一种基于结构约束的多线结构光系统条纹中心线提取方法,属于图像处理领域。包括:(1)相机标定,得到相机的内外参数;(2)对CCD工业相机采集到的图片进行滤波处理及边缘提取,得到条纹的像素宽度,粗提取条纹的像素中心线;(3)对于步骤(1)中获得的相机内外参数和步骤(2)中得到的条纹像素宽度,计算条纹的世界坐标宽度和激光器照射到物体上的光斑中心的世界坐标,然后计算激光器发射的光平面交点的世界坐标;(4)得到系统空间结构约束中的中心线偏移量e,并求偏移系数k;(5)求得条纹中心线的图像坐标,并转化为三维坐标用于误差检测。本发明适用于投射发散型多线激光条纹的三维视觉测量系统的中心线条纹的提取。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 结构 约束 系统 条纹 中心线 提取 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆明理工大学,未经昆明理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010973290.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种高效的高分子材料用造粒机
- 下一篇:一种高分子材料混料挤出系统





