[发明专利]一种可原位光谱测量反应堆包壳材料腐蚀行为的系统及其方法在审

专利信息
申请号: 202010939270.4 申请日: 2020-09-09
公开(公告)号: CN112129689A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 马骏;师鹏飞;王运龙;甘平平 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01N21/3577;G01N21/33;G01N30/02
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 施昊
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明中建立了一种可原位光谱测量反应堆包壳材料腐蚀行为的系统及其方法,首先将包壳材料置于反应釜内,然后在反应釜内创造高温高压环境,然后将反应釜安全的放入由放射源营造的辐照场内,辐照过程中,检测光可以通过加热机构上的辐照窗口穿过,进入反应釜中,并在射出后以气相色谱分析仪、液相色谱分析仪以及红外光谱仪等检测手段在线分析反应釜中材料的变化,并且通过在线分析系统对由反应釜气体取样管线提取的气体产物进行分析,从而了解包壳材料在高温高压辐照条件下的腐蚀行为。并且通过测压管线、泄压管线以及温度传感器保证了模拟系统的稳定,避免了各种危险的发生。
搜索关键词: 一种 原位 光谱 测量 反应堆 材料 腐蚀 行为 系统 及其 方法
【主权项】:
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