[发明专利]介质滤波器双工位调试设备及方法在审

专利信息
申请号: 202010926249.0 申请日: 2020-09-07
公开(公告)号: CN112072262A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 屈红军;李明;万正洋;曹首科;柳其硕;代杨帆;杨涛;刘宽 申请(专利权)人: 武汉心浩智能科技有限公司
主分类号: H01P11/00 分类号: H01P11/00
代理公司: 湖北天领艾匹律师事务所 42252 代理人: 杨建军
地址: 430000 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种介质滤波器双工位调试设备,包括工作台,所述工作台上设有滤波器固定工装;所述工作台上还设有滤波器配送机构,所述滤波器配送机构上用于放置料盘,所述料盘用于盛放滤波器;所述工作台上还设有第一两轴平台,所述第一两轴平台的运动维度为左右上下;所述第一两轴平台上设有激光蚀刻打磨组件,所述激光蚀刻打磨组件位于滤波器固定工装的上方;所述工作台上还设有第二两轴平台,所述第一两轴平台的运动维度为前后左右;所述第一两轴平台上设有打磨笔和吸盘,所述打磨笔和吸盘均通过升降模组与第一两轴平台连接。本发明通过设置双工位,能够同时对一个滤波器或分别对两个滤波器进行打磨调试,大幅度的提高了调试效率。
搜索关键词: 介质 滤波器 双工 调试 设备 方法
【主权项】:
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