[发明专利]一种用于Y波导反射特性测试的标定方法有效
| 申请号： | 202010919084.4 | 申请日： | 2020-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN112082734B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 杨军;张翔;党凡阳;朱云龙;林蹉富;张浩亮;苑勇贵;苑立波 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工程大学 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于Y波导反射特性测试的标定方法，包括实施的装置结构与标定的方法流程。实施方案是采用一个3dB耦合器与可变衰减器构建标定装置，通过调节标定装置的损耗大小来提升Y波导反射特性测试结果的标定精度，并且实现测试与标定同步进行。专利建立了Y波导器件内部反射特性测试结果的标定装置与方法，可以对现有的Y波导内部芯片与耦合点的反射率进行标定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 波导 反射 特性 测试 标定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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