[发明专利]一种用于远紫外波段气辉探测的光度计及其探测方法在审
| 申请号： | 202010835880.X | 申请日： | 2020-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN114076636A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 付利平;贾楠;王天放;彭如意;肖思;付建国;白雪松;李睿智 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01J3/28;G01N21/33 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 武玥;张红生 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种用于远紫外波段气辉探测的光度计及其探测方法，所述光度计包括离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管，所述离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管依次排序设置；其中，所述离轴抛物面反射镜表面镀远紫外带通反射膜；所述透射式带通滤光片的基底材料为MgF |
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| 搜索关键词： | 一种 用于 紫外 波段 探测 光度计 及其 方法 | ||
【主权项】：
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