[发明专利]一种电子元器件质量检测装置在审

专利信息
申请号: 202010830882.X 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN111999582A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 何茂香 申请(专利权)人: 何茂香
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02;B65G47/80;B65G47/74
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510080 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种质量检测装置,尤其涉及一种电子元器件质量检测装置。提供一种可以自动对电子元件进行检测、提高产品质量的电子元器件质量检测装置。一种电子元器件质量检测装置,包括有:底座,用于安装整个装置;驱动组件,安装在底座上,通过推动方式提供动力;下料组件,安装在底座上,通过滑动方式进行下料;检测组件,安装在底座上,通过滑动方式进行检测。相比现有技术,本发明的有益效果在于齿轮和齿圈配合,可以快速的输送电子元件,减少了人工的消耗,通过推块和第二楔形块配合,可以自动对电子元件进行下料,而且有效防止挡杆向右滑动复位过快,导致电子元件被挡杆卡住。
搜索关键词: 一种 电子元器件 质量 检测 装置
【主权项】:
暂无信息
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