[发明专利]X射线实时成像与CT断层扫描一体化智能无损检测系统有效
| 申请号： | 202010828721.7 | 申请日： | 2020-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN112051285B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 孙怡;余建桥;彭万里;刘吉顺;潘浩 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/046;G06T7/00;G06N3/04 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 隋秀文;温福雪 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属于无损检测领域，尤其涉及X射线实时成像与CT断层扫描一体化智能无损检测系统。该系统可同时实现DR和CT的检测与成像，实现DR/CT数据采集、处理、缺陷自动检测和显示的一体化，为检测人员提供被测物体不同视角的内部结构信息，从而综合判断物体内部缺陷的性质和状态；且系统中集成的缺陷识别技术可自动识别缺陷的大小、位置和种类，从而有效减轻检测人员识别缺陷的压力和提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 实时 成像 ct 断层 扫描 一体化 智能 无损 检测 系统 | ||
【主权项】：
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