[发明专利]一种基于碳膜二次电子产额的原子鉴别系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010806017.1 申请日: 2020-08-12
公开(公告)号: CN111965688B 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 常远;余庆龙;路立;荆涛;卢琪;孙越强 申请(专利权)人: 中国科学院国家空间科学中心
主分类号: G01T1/28 分类号: G01T1/28;G01T1/172
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;杨青
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于碳膜二次电子产额的原子鉴别系统,用于分析太空中的中性原子成分,系统包括:探测组件、信号处理模块、后端采样模块、FPGA控制模块和设置在上位机的分析模块;后端采样模块和FPGA控制模块通过FPGA实现;探测组件,用于接收待测中性原子并产生二次电子,收集倍增后的二次电子输出短电荷脉冲;信号处理模块,用于对短电荷脉冲进行转换、放大及滤波,输出准高斯信号;后端采样模块,用于采样准高斯信号输出峰值数字信号;FPGA控制模块,用于控制后端采样模块工作,还用于将峰值数字信号发送至分析模块;分析模块,用于根据峰值数字信号的脉冲峰值与单电子产生的脉冲峰值的倍数关系,确定待测中性原子的成分。
搜索关键词: 一种 基于 二次电子 原子 鉴别 系统 方法
【主权项】:
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