[发明专利]栅极抽取和注入场效应晶体管载流子控制方法有效

专利信息
申请号: 202010756734.8 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN111900199B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 廖永波;李平;曾荣周;张庆伟;李夏 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/16 分类号: H01L29/16;H01L29/24;H01L29/51;H01L29/786;H01L21/336;H01L21/34
代理公司: 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 代理人: 刘勋
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 栅极抽取和注入场效应晶体管载流子控制方法,涉及微电子技术和半导体技术,本发明包括下述步骤:1)施加第一栅电压,完成对沟道半导体中载流子的抽取,2)施加与第一栅电压相反极性的第二栅电压,并通过控制第二栅电压的幅度,控制注入载流子的数量,从而实现低功耗;所述栅极抽取和注入场效应晶体管在绝缘层上设置有源极、漏极、栅极和沟道半导体区,栅极与沟道半导体区之间设置有栅介质层,所述栅介质层为电阻值为103~1016Ω的薄膜材料;所述沟道半导体区的材质为二维半导体,或者具有二维半导体材料特点的三维半导体。采用本发明技术,器件和集成电路的功耗成数量级显著降低。
搜索关键词: 栅极 抽取 注入 场效应 晶体管 载流子 控制 方法
【主权项】:
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