[发明专利]一种介质绝缘性能测试装置在审
申请号: | 202010727608.X | 申请日: | 2020-07-24 |
公开(公告)号: | CN113933657A | 公开(公告)日: | 2022-01-14 |
发明(设计)人: | 陈金秀;赵玉峰;熊斌;阮琳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 郑越 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及高电压下绝缘性能测试技术领域,具体涉及一种介质绝缘性能测试装置,包括:密封壳体,内设有一对相对设置的高压电极和低压电极;加热结构,设于所述密封壳体中,用于对所述密封壳体中的液体进行加热使其处于气液两相流状态;流速调节结构,用于控制所述密封壳体中的液体按预定流速循环流动。本发明提供了一种可以对不同流速下的介质绝缘特性进行测量,适用范围广的介质绝缘性能测试装置。 | ||
搜索关键词: | 一种 介质 绝缘 性能 测试 装置 | ||
【主权项】:
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