[发明专利]测试装置在审
| 申请号： | 202010715090.8 | 申请日： | 2020-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN111913471A | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 刘斌;刘龙超;李建强;霍风祥 | 申请（专利权）人： | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人： | 谭承世 |
| 地址： | 102200 北京市昌平区沙河*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种测试装置，包括测试主板，测试主板上设有主处理器和测试座，主处理器与测试座连接；测试座用于放置待测芯片；主处理器包括：第一ADC采集器、第一DAC转换器、第一定时器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；测试座包括：第三ADC采集器、第二DAC转换器、第二定时器Timer、PMW模块以及第二USART通信接口；其中，第一ADC采集器与第二DAC转换器连接，第一DAC转换器与第三ADC采集器连接，第二ADC采集器与PMW模块连接，第一USART通信接口与第二USART通信接口连接；本发明只需要对单片机进行一次测试就能够验证单片机的所有功能并进行显示，更加的方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
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