[发明专利]口罩外观缺陷检测系统、方法、装置以及存储介质在审
| 申请号： | 202010659677.1 | 申请日： | 2020-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN111768404A | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 钟宗余;赵正阳 | 申请（专利权）人： | 北京滴普科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人： | 刘冀 |
| 地址： | 100080 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种口罩外观缺陷检测系统、方法、装置以及存储介质。其中，系统包括：图像处理服务器、用于采集待检测外观缺陷的口罩的口罩图像的图像采集装置，图像采集装置与图像处理服务器连接，其中图像处理服务器配置用于执行以下操作：从图像采集装置接收口罩图像；根据口罩图像，判定口罩是否存在外观缺陷；在判定口罩存在外观缺陷的情况下，利用预先训练的外观缺陷检测模型对口罩图像进行检测，确定外观缺陷在口罩图像中的缺陷位置信息；并且通过以下操作对外观缺陷检测模型进行优化：利用预设的CGAN模型和图像采集装置采集到的存在外观缺陷的口罩缺陷图像，生成多个样本缺陷图像；以及利用多个样本缺陷图像，重新训练外观缺陷检测模型。 | ||
| 搜索关键词： | 口罩 外观 缺陷 检测 系统 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
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