[发明专利]一种高频硅锗异质结双极晶体管及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010642151.2 申请日: 2020-07-06
公开(公告)号: CN111739939A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 王冠宇;刘培培;文剑豪;周春宇;魏进希;宋琦;王巍;肖渝 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: H01L29/737 分类号: H01L29/737;H01L29/06;H01L21/331
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 杨柳岸
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种高频硅锗异质结双极晶体管及其制造方法,属于电子技术领域。在单晶Si衬底上淀积埋氧化层;在基极窗口所对应的集电区的位置进行硼离子注入,并执行快速退火操作以消除晶格损伤;在集电区的一端刻蚀出凹槽形成STI隔离区,淀积填充重掺杂的Si材料;在基区的Ge组分采用阶梯型分布;在单晶Si薄层上淀积N+多晶硅作为发射极;在多晶Si发射极层、单晶Si薄层和基区SiGe薄层的两侧覆盖一层Si3N4应力膜,在发射区和基区同时引入单轴应力;光刻集电极、发射极和基极以外的金属,形成引线。本发明中在发射区和基区同时引入了单轴压应力,提高了载流子的迁移率和器件的频率特性,满足太赫兹频段对核心器件性能的要求。
搜索关键词: 一种 高频 硅锗异质结 双极晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
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