[发明专利]检查装置在审
| 申请号： | 202010626211.1 | 申请日： | 2020-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN112255251A | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 岩井厚司;万木太;冨永浩太;牧広祥 | 申请（专利权）人： | 株式会社石田 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 车美灵 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及检查装置。X射线检查装置(1)具有：存储部(21)，存储多种图像处理算法；获取部(22)，获取通过使电磁波透射附有异物(F)的物品(A)得到的透射图像(P11)或者合成透射图像(P13)作为基准透射图像(P1)；评价部(24)，根据利用存储部(21)中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像(P1)进行处理得到的评价图像(P3)，评价各种图像处理算法对异物(F)的检测精度；以及设定部(25)，根据评价部(24)的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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