[发明专利]RTK定位结果的粗差检验方法及系统在审
申请号: | 202010601650.7 | 申请日: | 2020-06-28 |
公开(公告)号: | CN113848576A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 陈华炎 | 申请(专利权)人: | 千寻位置网络有限公司 |
主分类号: | G01S19/44 | 分类号: | G01S19/44;G01S19/41;G01S19/07 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 竺云;须一平 |
地址: | 200438 上海市杨浦区国权北*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及卫星定位技术领域,公开了一种RTK定位结果的粗差检验方法及系统,该方法包含:获取RTK定位结果的粗差标记结果以及至少一个粗差相关特征的值;利用分类算法,以及每个RTK定位结果的粗差标记结果与粗差相关特征,对粗差检验模型进行训练,以确定粗差检验模型的参考偏置值和每个粗差相关特征相应的参考权值系数;将待检验的RTK定位结果相应的粗差相关特征代入训练后的粗差检验模型,以对待检验的RTK定位结果进行粗差检验。 | ||
搜索关键词: | rtk 定位 结果 检验 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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