[发明专利]磁体样件、磁极检测样件及磁极充磁饱和度的检测方法有效

专利信息
申请号: 202010585875.8 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN113839488B 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 宋佺;李延慧;张世福 申请(专利权)人: 北京金风科创风电设备有限公司
主分类号: H02K1/278 分类号: H02K1/278;H02K1/2713;H01F7/02;H01F13/00;G01R33/02
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 刘敏
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种磁体样件、磁极检测样件及磁极充磁饱和度的检测方法,该磁体样件用于检测磁极的充磁饱和度,磁体样件与多个永磁体排列形成磁极,并且具有与永磁体相同的外轮廓尺寸,其中,磁体样件包括可充磁的试柱。本发明通过设置用于模拟磁极的永磁体的磁体样件,并将磁体样件与多个永磁体一并组装至基板上的充磁磁场较弱的位置来制备模拟磁极的磁极检测样件,然后对磁极检测样件进行充磁,检测充磁后的磁体样件的充磁饱和度,从而可以有效评估整个磁极的充磁饱和度。
搜索关键词: 磁体 样件 磁极 检测 充磁 饱和度 方法
【主权项】:
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