[发明专利]一种高结晶质量纯相氧化亚铜薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202010578047.1 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN111807405B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 方国家;肖蒙 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: C01G3/02 分类号: C01G3/02;H01L31/032
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 李艳景
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种高质量氧化亚铜薄膜的制备方法。其步骤为:通过陶瓷片构筑微小反应空间,以纯铜箔为铜源,氧气或者空气作为反应气源采用热氧化法制备得到氧化亚铜薄膜;其中:微小反应空间的构筑方法为:取上陶瓷片和下陶瓷片,将两片支撑陶瓷片分别置于上陶瓷片和下陶瓷片之间撑起微小空间,即为构筑的微小反应空间;纯铜箔置于微小反应空间内的下陶瓷片表面;支撑陶瓷片厚度为0.1‑1mm,纯铜箔厚度为0.05‑0.2mm,支撑陶瓷片厚度至少是纯铜箔厚度的1.5倍。该方法获得的氧化亚铜结晶质量高,晶粒尺寸大,可达1.5mm,电化学性能优异,带隙小;操作简便,结果稳定,在光伏、光催化等方面具有良好的应用前景。
搜索关键词: 一种 结晶 质量 氧化亚铜 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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