[发明专利]基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置有效
申请号: | 202010568120.7 | 申请日: | 2020-06-19 |
公开(公告)号: | CN111879798B | 公开(公告)日: | 2023-02-24 |
发明(设计)人: | 席晓琦;韩玉;李磊;闫镔;尹召乐;宋晓芙;谭思宇 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046 |
代理公司: | 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 | 代理人: | 石丹丹 |
地址: | 450000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: |
本发明属于纳米CT投影图像校正技术领域,具体涉及一种基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置,该方法包括采用圆轨迹方式在N个角度,每个采集角度下采集M张投影;计算采集角度为θ |
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搜索关键词: | 基于 采集 序列 细分 纳米 ct 投影 位置 漂移 校正 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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