[发明专利]基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010568120.7 申请日: 2020-06-19
公开(公告)号: CN111879798B 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 席晓琦;韩玉;李磊;闫镔;尹召乐;宋晓芙;谭思宇 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 代理人: 石丹丹
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明属于纳米CT投影图像校正技术领域,具体涉及一种基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置,该方法包括采用圆轨迹方式在N个角度,每个采集角度下采集M张投影;计算采集角度为θn的M张投影的位置偏差,根据位置偏差对投影进行位置漂移校正并将校正后的CT图像进行多帧累加;将采集角度为θ1中第M张投影与第1张投影的位置偏差作为初始传递校正值,对采集角度为θ2的投影进行二次校正;将初始传递校正值与采集角度为θ2中第M张投影与第1张投影的位置偏差累加作为传递校正值对采集角度为θ3的投影进行二次校正;依次完成所有采集角度下的投影进行位置漂移校正,得到用于三维重建的投影数据。本发明能够校正CT图像位置偏差且能够提高纳米CT图像的信噪比。
搜索关键词: 基于 采集 序列 细分 纳米 ct 投影 位置 漂移 校正 方法 装置
【主权项】:
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