[发明专利]用于身份识别研发的系统寿命检验系统在审
| 申请号： | 202010545675.X | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN111751093A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 龚水生 | 申请（专利权）人： | 江苏高聚识别技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00;G01B11/00;G01B11/06;G06F30/20;G06F111/10;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京华际知识产权代理有限公司 11676 | 代理人： | 赖俊平 |
| 地址： | 224000 江苏省盐城*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及身份识别研发的技术领域，特别是涉及一种用于身份识别研发的系统寿命检验系统，其能够预测身份识别研发系统正常使用状态下的寿命，便于研发人员及时掌握系统寿命，减少系统寿命临近而未察觉，造成未及时准备更换备件导致研发生产中断的情况发生，提升系统的完善性；红外测距单元，用于测量研发系统的模具的厚度d，并将厚度d发送；时钟单元，用于对研发系统的模具使用时间t进行记录并将使用时间t发送；计算统计单元，用于存储身份识别研发系统寿命检测数学模型，并且接收红外测距单元发送的厚度和时钟单元发送的时间，并将时间t和厚度t带入至身份识别研发系统寿命检测数学模型中进行计算得出系统的总寿命时长T。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 身份 识别 研发 系统 寿命 检验 | ||
【主权项】：
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