[发明专利]一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法有效
| 申请号： | 202010544565.1 | 申请日： | 2020-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN111693609B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 沙正骁;曾甘露;杨帅;陆传雨;刘骁;安仕伟;梁菁;黄嘉诚 | 申请（专利权）人： | 中国航发北京航空材料研究院 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G01N29/44 |
| 代理公司： | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 符继超 |
| 地址： | 100095 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于散射波干涉理论的微小缺陷超声检测方法，包括如下步骤：(1)利用有限元仿真法得到干涉技术识别微小缺陷机理；(2)依据仿真得到的微小缺陷干涉机理实现超声扫描信号获取及微小缺陷特征信息获取和识别；(3)制作用以验证干涉法识别微小缺陷能力的微小缺陷试块；(4)对干涉法检测微小缺陷的工艺参数最优化。本发明通过先进的信号分析技术提取微小缺陷信息，实现了微小缺陷的快速识别，解决了微小缺陷的识别问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散射 干涉 理论 微小 缺陷 超声 检测 方法 | ||
【主权项】：
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