[发明专利]一种光学元件体缺陷的提取方法有效
| 申请号： | 202010543080.0 | 申请日： | 2020-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN111899215B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 刘东;王玥;程郉磊 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/181;G01N21/95;G01N21/88;G01M11/00 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 彭剑 |
| 地址： | 310013 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光学元件体缺陷的提取方法，包括：(1)采用两台激光光源发出光线，分别经过分光镜和反射镜，照射光学元件内部，经过内部体缺陷散射后在CCD处成像；(2)针对光学元件内不同层次扫描得到的体缺陷二维图像，计算相邻两层之间光斑外接矩形的交并比，判断是否为同一个体缺陷；(3)进行预处理，并设置灰度阈值进行二值化；(4)划分感兴趣区域，并建立滑窗对其遍历进行逐点扫描；(5)计算滑窗处的清晰度，对实验中光斑图案进行判别并去除不清晰部分；(6)结合附近层次体缺陷扫描二维图像计算亮斑的外接矩形长宽比，如果超出阈值，则作为体缺陷剔除，得到真正的体缺陷图像。本发明方法检测效果好，速度快，抗干扰能力强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 缺陷 提取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学，未经浙江大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010543080.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种新能源汽车电机参数的选择方法
- 下一篇：日志抓取方法、装置和转接模块
