[发明专利]一种光诱导STM动态响应检测系统及方法有效
申请号: | 202010541346.8 | 申请日: | 2020-06-12 |
公开(公告)号: | CN111650404B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 张立功;刘雷;徐海;申德振 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01Q60/10 | 分类号: | G01Q60/10 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 巴翠昆 |
地址: | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本申请公开了一种光诱导STM动态响应检测系统及方法,其中脉冲选择器触发分频器生成阶跃式信号;第一光束反射装置上设有在阶跃式信号驱动下进行阶跃式位置变动的微动压电直线位移台;光束汇聚装置将第一光束反射装置反射的探测光和第二光束反射装置反射的泵浦光汇聚至位于STM探针下的实验材料;第二光束反射装置上设有对探测光和泵浦光到达材料的时间差进行调整的长程直线位移台;锁相放大器将阶跃式信号作为参考信号对针尖隧道电流信号进行锁相放大处理,以确定STM动态响应结果;微动压电直线位移台的调制频率为脉冲选择器的频率的二分之一,微动压电直线位移台与脉冲选择器之间的相位锁定并且可调。上述技术方案能够实现对STM动态响应的可靠检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 光诱导 stm 动态 响应 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
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