[发明专利]挖孔全面屏用偏光片孔内异物清洁检测装置及方法有效
| 申请号： | 202010536839.2 | 申请日： | 2020-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN111632956B | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 雷超;张利娣 | 申请（专利权）人： | 惠州市富丽电子有限公司 |
| 主分类号： | B08B7/00 | 分类号： | B08B7/00;G01B11/00;G01B11/12;G01B11/27;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 王华强 |
| 地址： | 516223 广东省惠州市惠阳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种挖孔全面屏用偏光片孔内异物清洁检测装置，其包括上料机构、传送机构、激光定位清洗检测机构以及下料机构，传送机构的始端与上料机构相邻，传送机构接收上料机构上料并传送偏光片，激光定位清洗检测机构设于传送机构的传送路径上，其对经过的偏光片的内孔进行CCD定位，对内孔尺寸进行检测，对定位后的内孔进行激光清洁，对清洁完成后的内孔进行检测，下料机构与传送机构的末端相邻，下料机构接收内孔清洁完成后的偏光片并分别对良品偏光片和不良品偏光片进行下料；本发明还揭示了挖孔全面屏用偏光片孔内异物清洁检测方法。本申请的检测清洁效率高、效果好，且不会伤及偏光片产品，保证了偏光片产品的良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 全面 偏光 片孔内 异物 清洁 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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