[发明专利]一种发热体的雷达散射截面测试系统及其方法

摘要

本发明涉及一种发热体的雷达散射截面测试系统及其方法。本发明包括微波暗室、控制单元和测试仪器；所述微波暗室中设置有馈源、紧缩场、低散射支架、旋转驱动机构、耐高温支架、位移机构和电加热装置；本发明的系统和方法中目标体的加热温度可达1300℃，测量RCS时温度在1200℃左右，电加热装置使用位移机构移动，位移机构采用升降平台、作动筒、连杆等多种结构可实现快速准确移动，对目标体完成加热后快速移出微波暗室，并用带有吸波材料的盖板闭合开口，电加热装置及位移机构对测试系统的测量精度不产生影响，而且部破坏暗室的整体性，测量精度高。