[发明专利]基于半导体载流子调制透射激光的太赫兹波探测方法有效

专利信息
申请号: 202010521483.5 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN111609929B 公开(公告)日: 2022-12-27
发明(设计)人: 赵佳宇;董章华;彭滟;朱亦鸣;汤烈志;惠雨晨 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G02F1/015
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 徐颖
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于半导体载流子调制透射激光的太赫兹波探测方法,激光器发射激光照射到半导体上,半导体发生内光电效应产生载流子,在太赫兹波电场的作用下,半导体中的载流子发生定向移动并复合,浓度发生变化,激光促使半导体产生载流子,太赫兹波对载流子浓度进行调制,载流子浓度变化又对透射激光进行调制,半导体输出透射激光打到硅片上,被反射输入到光电二极管被探测,再将探测信号接入示波器处理,得到太赫兹波的强度信息。通过探测激光间接获得太赫兹波形,充分利用了激光在自由空间传输损耗小、准直性好、接收装置简易等优点,降低了直接探测太赫兹波形的难度。因此该技术方法可应用于太赫兹远程遥感。
搜索关键词: 基于 半导体 载流子 调制 透射 激光 赫兹 探测 方法
【主权项】:
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