[发明专利]一种叠加正弦扰动的光电设备动态精度测量方法在审
| 申请号： | 202010503536.0 | 申请日： | 2020-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN111595361A | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 张智香;张众森;刘德超;周鑫;曹锐;季锐;张丁梧;李旭阳 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军63660部队 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘瑞东 |
| 地址： | 841700 新疆维吾*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种叠加正弦扰动的光电设备动态精度测量方法，属于光电测量技术领域，适用于光电设备外场试验过程中的精度标校。本发明基于恒星实时位置参数，光电设备在叠加正弦扰动情况下对目标恒星进行稳定跟踪，通过统计分析恒星理论位置与实时测量位置误差，获取光电设备的动态测量精度，解决光电设备外场工作时测量精度测量标校问题。同时该方法具有很强的通用性，对具有测量电视的其他外场测量设备(如雷达、遥测设备等)的测量误差标校也适用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 叠加 正弦 扰动 光电 设备 动态 精度 测量方法 | ||
【主权项】：
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