[发明专利]IGBT剩余寿命预测和状态评估实现方法有效
| 申请号： | 202010482674.5 | 申请日： | 2020-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113759225B | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 黄亦翔;葛建文 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理;王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种IGBT剩余寿命预测和状态评估实现方法，通过老化试验平台采集IGBT模块的集电极‑发射极电压Vce的关断瞬态曲线，从中提取特征并滤波后通过深度自回归递归神经网络(Deep Autoregressive Recurrent Networks)进行曲线趋势预测，预测到的曲线超过阈值时判定IGBT失效，对应得到IGBT模块的老化程度和健康状态。本发明以IGBT开光瞬间的瞬态波形特征作为IGBT老化的指标。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 剩余 寿命 预测 状态 评估 实现 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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