[发明专利]下料设备及纳米晶材料检测系统有效
| 申请号： | 202010441502.3 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111589739B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 任潇;曹葵康;魏子健;蒙海;闻刘勇;周明;蔡雄飞;徐一华 | 申请（专利权）人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/38 | 分类号： | B07C5/38;B65G49/07;B65G49/06 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 徐颖聪 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种下料设备及纳米晶材料检测系统，其中，下料设备包括：收料机构，用于收集经检测后的纳米晶材料；机械手，所述机械手用于将检测后的所述纳米晶材料搬运至所述收料机构，所述机械手包括：吸附装置，所述吸附装置用于吸附所述纳米晶材料，所述吸附装置的底端间隔开地设置有多个吸盘，以同时吸附多片纳米晶材料；运转装置，所述运转装置连接所述吸附装置，用于带动所述吸附装置运动。根据本发明的下料设备，能够自动化地同时进行多片下料，效率高、节省人力且避免产品污染。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 纳米 材料 检测 系统 | ||
【主权项】：
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