[发明专利]物料测量装置及物料测量系统在审
| 申请号： | 202010433969.3 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111721357A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 呼秀山;夏阳 | 申请（专利权）人： | 北京锐达仪表有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11807 | 代理人： | 李伟波;韩德凯 |
| 地址： | 100744 北京市通州区中关村科技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种物料测量装置，包括：多个微带天线，形成多个收发天线单元，所述收发天线单元包括发射天线与接收天线，所述发射天线用于生成微波发射波束，所述接收天线用于接收所述微波发射波束被反射后而生成的微波反射波束，通过所述微波发射波束和所述微波反射波束来对物料进行测量；以及微波透镜，所述多个微带天线位于所述微波透镜的一侧，在所述微波透镜的另一侧，所述微波透镜会聚每个发射天线所发射的微波发射波束，会聚后的每个微波发射波束的角度不同，并且所述微波透镜会聚所述微波反射波束，以便所述接收天线接收会聚后的微波反射波束。本公开还提供了一种物料测量系统。 | ||
| 搜索关键词： | 物料 测量 装置 系统 | ||
【主权项】：
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