[发明专利]用于激光净成形中结合有限元实现应力原位测量的基板有效
| 申请号： | 202010425688.3 | 申请日： | 2020-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN111619117B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 谢惠民;李加强;石文雄;刘胜 | 申请（专利权）人： | 清华大学;武汉大学 |
| 主分类号： | B29C64/386 | 分类号： | B29C64/386;B33Y50/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 罗文群 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于激光净成形中结合有限元实现应力原位测量的基板，属于增材制造中原位监测技术领域。该基板包括基板本体、镜面反射片和反射片定位螺栓；基板本体的四周加工有基板固定翼，基板本体的上表面为制造面，下表面为测量面，测量面上加工有螺纹点阵孔，反射片定位螺栓与测量面螺纹点阵孔相互配合，镜面反射片固定在反射片定位螺栓的端部。本发明的基板中，使用镜面反射片代替已有技术中的基板测量面的抛光处理，可以根据测量需要调整基板变形监测的区域。将基板上制造的零件切离基板后、原位监测前，只要重新更换镜面反射片即可满足相干梯度测量系统的要求，节约了经济成本和时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 激光 成形 结合 有限元 实现 应力 原位 测量 | ||
【主权项】：
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