[发明专利]一种球面近场天线测量系统的校正方法有效
| 申请号： | 202010425422.9 | 申请日： | 2020-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN111579886B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 张重阳;黄文涛;张再庆;陈旭;刘浩;明章健;盛永鑫 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 | 代理人： | 王林 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种球面近场天线测量系统的校正方法，属于天线测量技术领域，天线测量系统包括主控模块、运动控制器、接收机、俯仰扫描架、探头阵、方位转台、多通道开关、校正天线，探头阵校正时，由校正天线发射信号，经过空间传播，到达探头阵，由探头阵中的探头天线逐一采集校正数据，在初始位置0，采集校正数据为E；由俯仰扫描架向上扫描到位置1，再次采集校正数据为D；由俯仰扫描架向下扫描到位置2，再次采集校正数据为F，通过三组校正数据计算得到一组校正系数，将该系数加载到近场测量软件，然后在测试过程中自动修正测量数据。本发明校正精度高，校正成本低，校正速度快，为球面近场多探头校正问题提供了一种全新的高效能解决方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 球面 近场 天线 测量 系统 校正 方法 | ||
【主权项】：
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