[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202010405374.7 申请日: 2020-05-13
公开(公告)号: CN111598863B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 黄耀;陶斯琴;吴雨培;李其乐 申请(专利权)人: 北京阿丘机器人科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T3/40;G06T7/11;G06T7/90;G06V10/25;G06V10/774
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 方昊佳
地址: 100190 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种缺陷检测方法、装置、设备和可读存储介质,该方法包括将原图像与模板图像进行图像通道拼接,获取拼接多通道图像;根据自定义感兴趣区域框,对拼接多通道图像进行裁切,获取裁切图像;对裁切图像进行数据增强处理获取训练样本数据;根据训练样本数据对神经网络模型进行训练并保存训练后的神经网络模型;对于待检测图像,利用训练后的神经网络模型输出检测结果。通过图像通道拼接、自定义感兴趣区域框以及数据增强方法对于图像处理后输入神经网络模型训练,使模型在面对缺陷检测问题时,能够捕获到充分的缺陷信息、补充信息以及批处理大小值,使神经网络模型对缺陷品检测准确率提高而良品被检测为缺陷品的概率降低。
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 装置 设备 可读 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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