[发明专利]缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202010377497.4 | 申请日： | 2020-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN111583223A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 蒋焘 | 申请（专利权）人： | 上海闻泰信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/62 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 潘登 |
| 地址： | 200000 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。该方法包括：获取待检测产品的图像信息，图像信息包括图片信息和轮廓信息；利用图像分析算法对轮廓信息进行分析，得到待检测产品的第一检测结果；利用图像深度学习算法对图片信息进行分析，得到待检测产品的第二检测结果；根据第一检测结果和第二检测结果，得到待检测产品的最终检测结果。本发明提供的方案能够将图像分析算法和图像深度学习算法相结合，提高了缺陷的检出率，解决了良品与不良品的判断争议，降低了对待检测产品的误判率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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