[发明专利]一种匹配氮化镓材料的低界面态复合介质结构及制备方法有效

专利信息
申请号: 202010369832.6 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111509036B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 王鑫华;刘新宇;黄森;蒋浩杰;魏珂;殷海波;樊捷 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/51;H01L21/336
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 代理人: 吴利芳
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种匹配氮化镓材料的低界面态复合介质结构及制备方法,属于半导体技术领域,用于解决现有技术中介质与(Al,In)GaN材料之间居高不下的界面态问题。本发明低界面态复合介质结构,包括:(Al,In)GaN基板、Si2N2O层和位于(Al,In)GaN基板与Si2N2O层之间的Ga2O3层;(Al,In)GaN为GaN、Al1‑mGamN、In1‑mGamN或AlnIn1‑m‑nGamN,0<m≤1,0≤n<1。本发明有效降低界面态密度,有利于解决长期困扰III族氮化物(III‑N)体系的界面态问题,推动III‑N电子器件的规模化和实用化。
搜索关键词: 一种 匹配 氮化 材料 界面 复合 介质 结构 制备 方法
【主权项】:
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