[发明专利]一种基于JTAG的FPGA芯片自动化测试方法在审
| 申请号： | 202010367878.4 | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111965530A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 朱维良;霍红茹;周亚丽;王海力;马明 | 申请（专利权）人： | 京微齐力(北京)科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 100190 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种现场可编程门阵列芯片的自动化测试方法，所述方法包括：获取现场可编程门阵列的功能仿真结果；将功能仿真结果转成包含若干JTAG测试向量的JTAG测试用例；将若干JTAG测试向量，依次通过JTAG接口将每个JTAG测试向量发送到FPGA芯片；并通过JTAG接口读取FPGA芯片的输出结果；将输出结果与功能仿真结果进行比对；根据比对的结果，得到该JTAG测试用例的测试结果。该方法以自动化方式，将FPGA芯片流片前的大量功能仿真验证结果，直接应用到芯片的验证当中,并且不需要借助外围测量设备既可直接获得验证结果，提高了测试FPGA芯片的测试效率，同时降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 jtag fpga 芯片 自动化 测试 方法 | ||
【主权项】：
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