[发明专利]卷式GaN基半导体器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010319858.X 申请日: 2020-04-22
公开(公告)号: CN111223926B 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 马飞;冯光建;黄雷 申请(专利权)人: 浙江集迈科微电子有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L23/473;H01L21/335
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 贺妮妮
地址: 313100 浙江省湖州市长兴县经济技术开发*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种卷式GaN基半导体器件及其制备方法,该器件包括:第二半导体衬底;键合材料层;中空且封闭的卷式管状结构,由外向内包括:具有压应力及张应力的两层SiN层、第二AlyGa1‑yN层、GaN层及第一AlxGa1‑xN层,0x1,0y1。通过形成具有张应力及压应力的两层SiN层,在刻蚀牺牲层过程中,具有不同应力的SiN层之间互相调控自行卷曲形成中空且封闭的卷式管状结构,该三维结构尺寸小;同时,自卷形成的GaN基半导体器件可作为微流通道,内表面受钝化层保护,工艺简单,且可保证半导体器件的散热性能;还可向卷式管状结构的中空部分通入冷却液对半导体器件进行散热,以保证半导体器件在高温条件下的散热性能。
搜索关键词: gan 半导体器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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