[发明专利]一种TOF深度测量装置及方法在审
| 申请号： | 202010311679.1 | 申请日： | 2020-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN111366941A | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 孙飞;武万多;王兆民;郑德金;王家麒;孙瑞 | 申请（专利权）人： | 深圳奥比中光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S17/894;G01S7/4865;G01S7/4915 |
| 代理公司： | 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 | 代理人： | 田志立 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种TOF深度测量装置，包括发射模组，用于向目标物体投射点阵图案；其中，所述点阵图案包括真实光斑形成的真实点阵以及虚拟光斑形成的虚拟点阵；采集模组，接收经目标物体反射回来的反射光信号；所述采集模组包括由像素阵列组成的图像传感器，其中，像素阵列的一部分像素用于检测真实光斑反射回的第一反射光信号，另一部分像素用于检测非真实光斑直接反射回的第二反射光信号；控制与处理器，分别与发射模组和采集模组连接，根据所述第二反射光信号对所述第一反射光信号进行滤除得到第三反射光信号，并基于第三反射光信号计算相位差得到目标物体的第一深度图。本发明在实现高分辨率深度图像的同时解决了反射光束多路径干扰的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tof 深度 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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