[发明专利]一种单离子成像检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010310993.8 申请日: 2020-04-20
公开(公告)号: CN111487190B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 刘巍;罗子人;牛宇 申请(专利权)人: 中国科学院力学研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/21;G01N21/84
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 胡剑辉
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例公开了一种单离子成像检测方法及装置,检测装置包括全内反射椭偏成像仪、奇点耦合差分成像反应单元、信号处理单元、微流道单元和噪声隔离系统,检测方法包括步骤如下:光束发射点产生探测光束,探测光束经奇点耦合差分成像反应单元反射并汇聚在全内反射椭偏成像仪的CCD探测器;CCD探测器实时采集奇点耦合差分成像反应单元反射形成的传感表面图像数据,并且将传感表面图像数据传输到信号处理单元;信号处理单元进行数据处理,获取工作区域信号强度I0、参比区域信号强度Ir以及单个离子或带电分子相互作用信号S;本方案能够实时观测单个离子或其他带有电荷分子在固相表面的吸附及其物化反应。
搜索关键词: 一种 离子 成像 检测 方法 装置
【主权项】:
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