[发明专利]缝隙测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202010296423.8 申请日: 2020-04-15
公开(公告)号: CN111486788A 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 方宇;董大卫;周志峰;杨皓;吴明晖 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;G06T7/13;G06T7/80;G06T17/00;G06F17/16
代理公司: 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙) 31293 代理人: 刘朵朵
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种缝隙测量系统及测量方法,包括机械臂、上位机、控制柜及视觉系统,上位机通过连接所述控制柜以控制所述机械臂;视觉系统包括双目相机及结构光投射器,双目相机及结构光投射器均固定于所述机械臂的末端;机械臂运动至缝隙的上方,结构光投射器投射在缝隙上,形成缝隙的图像;所述双目相机用于采集所述缝隙的图像,并把所述缝隙的图像发送至所述上位机,所述上位机进行图像处理,所述上位机根据图像处理的结果获取缝隙的三维空间坐标,并生成缝隙的空间三维重建模型;所述上位机旋转缝隙的空间三维重建模型与世界坐标系的Z轴平行,并把旋转之后的缝隙的空间三维重建模型分别向不同坐标平面投影的方法来求取缝隙的宽度和面差数值。
搜索关键词: 缝隙 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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