[发明专利]一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202010201495.X 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN111474569A 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 任熠;郭喜荣;乔莉;杜向阳;郭强;张佳;盛佳;刘晋瑾;苗宇星;侯磊 申请(专利权)人: 山西中辐核仪器有限责任公司
主分类号: G01T1/169 分类号: G01T1/169;G01T1/185
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 任晓航;胡明军
地址: 030000 山西省太原市*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明涉及一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器及其制作方法,包括测量室、反符合测量室和之间的挡板;挡板能阻挡α射线和β射线而使宇宙射线和环境γ射线通过。制作方法包括:对各个部件进行第一次清洁;将部件组装固定;对组装好的探测器进行再清洁;对探测器进行气体置换和钝化;加压封口并进行性能测试。本发明的有益效果如下:能降低宇宙射线和环境γ射线影响,从而降低探测器本底和最低可探测下限,提高辐射测量的性能。探测器的坪斜在3%/100V以下,坪长在200V以上,紧贴入射窗表面处测量β放射源90Sr‑90Y效率>60%,α放射源239Pu效率>30%,β的最低可探测下限0.12Bq/cm2,α的最低可探测下限0.02Bq/cm2,计数寿命不小于1.0E12,搁置寿命在1年以上。
搜索关键词: 一种 测量 表面 污染 本底 符合 闭气 正比计数器 及其 制作方法
【主权项】:
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