[发明专利]探测装置、质检设备、质检方法及可读存储介质有效
| 申请号： | 202010197722.6 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111521374B | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 谢光辉 | 申请（专利权）人： | 富联裕展科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01B11/27 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 陈敬华 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区龙华街道富康社区东环二路2号富士康H5厂房101、观澜街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种探测装置，包括探测机构，用于产生第一元件的位置信息及第二元件的位置信息；以及处理器，与所述探测机构耦接，用于根据所述第一元件的位置信息及所述第二元件的位置信息分析所述第一元件与第二元件之间的平行度。上述探测装置能够自动检测元件之间的平行度，提升了检测的精确度和效率，且节省了人力成本。本发明同时提出一种质检设备、质检方法及可读存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 探测 装置 质检 设备 方法 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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