[发明专利]一种场反位形等离子体中的磁场测量方法有效
| 申请号： | 202010175193.X | 申请日： | 2020-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN111337863B | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 徐田超;杨肖易;肖池阶;邓必河;黄贤礼;李松健 | 申请（专利权）人： | 北京大学;新奥科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人： | 高园园 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明提供一种场反位形(FRC)等离子体中的磁场测量方法，该方法采用激光离子束轨迹探针(LITP)来测量FRC等离子体中的磁场，激光离子加速器产生的离子束经准直器入射至场反位形装置；测量不同能量的离子在所述场反位形等离子体中的磁场中的环向偏转角(Φ |
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| 搜索关键词： | 一种 场反位形 等离子体 中的 磁场 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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