[发明专利]基于倾斜光栅的硅基垂直耦合激光器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010161864.7 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN111355127A 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 曹玉莲;刘建国;张志珂 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/183 分类号: H01S5/183;H01S5/026;H01S5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种基于倾斜光栅的硅基垂直耦合激光器及其制备方法,其基于倾斜光栅的硅基垂直耦合激光器,自下而上顺次包括:SOI(Silicon on SiO2)芯片、光栅耦合层、多对下布拉格反射镜、III‑V族垂直腔激光器谐振腔、III‑V族多对上布拉格反射镜和III‑V族上欧姆接触层;所述光栅耦合层包括:Si倾斜光栅,SiO2填充层和SiO2间隔层;Si倾斜光栅嵌设于SOI芯片上;SiO2填充层填充Si倾斜光栅所在空隙区域,且SiO2填充层完全覆盖Si倾斜光栅。本公开具有更高的耦合效率和工艺容差。
搜索关键词: 基于 倾斜 光栅 垂直 耦合 激光器 及其 制备 方法
【主权项】:
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