[发明专利]集成电路图像匹配方法及系统在审
| 申请号： | 202010150602.0 | 申请日： | 2020-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN111445502A | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 王力纬;雷登云;孙宸;侯波;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06T7/33 | 分类号： | G06T7/33;G06T7/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 史治法 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路图像匹配方法及系统。一种集成电路图像匹配方法，其特征在于，所述的图像匹配方法包括：构造集成电路版图微观图像的检测算子；基于所述检测算子将所述集成电路版图微观图像的特征点与所述集成电路设计版图的特征点进行比较，以得到匹配点；基于孔特征对集成电路版图微观图像及集成电路设计版图进行精确定位。上述集成电路图像匹配方法与系统，首先实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的区域定位，然后基于集成电路版图微观图像中孔的特征，精确定位到孔中心，而实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的精准匹配从而实现两者之间的像素级对齐。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 图像 匹配 方法 系统 | ||
【主权项】：
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