[发明专利]用于测量光学系统的特性的方法和装置在审
| 申请号： | 202010144647.7 | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN111649913A | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | N·塞皮恩斯;J·塞里 | 申请（专利权）人： | 艾科股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;A61B3/103 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 金辉 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开的实施例可以包括用于提供低成本设备的设备、系统和方法，该设备可以通过附接到智能手机非常精确地测量屈光不正。所公开的设备可以通过利用逆Shack‑Hartman技术在模拟视光师使用的十字柱镜过程中使用环境光或光源。光学装置可包括小透镜和小孔的阵列，其将迫使用户有效地聚焦在不同深度。使用光学设备并结合智能手机，用户首先改变轴的角度，直到他/她看到十字图案(垂直线和水平线等距隔开)为止。用户通常使用智能手机上的控件来调整显示，以使线汇合并重叠，这相当于使视图成为清晰的焦点，从而为用户确定适当的光学处方。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 光学系统 特性 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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