[发明专利]一种电离层TEC异常值提取方法及系统有效
| 申请号： | 202010128064.5 | 申请日： | 2020-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN113325463B | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 钟佳;邹自明;佟继周 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01V1/00 | 分类号： | G01V1/00;G01V1/30 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 杨青;武玥 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电离层TEC异常值提取方法及系统，所述方法包括：从预先构建的数据集中，选取前27天中同一时刻的TEC值组成一组时间序列数据，构建时滞矩阵，利用主成分分析方法提取27天TEC值的变化趋势，然后利用四分位距法计算参考背景TEC下界值和参考背景TEC上界值；采集当前时间范围内的电离层TEC时间序列数据并进行均值化处理；将均值化处理后的时间序列中的每个TEC值，与计算出的参考背景TEC下界值和参考背景TEC上界值分别进行比较，如果小于参考背景TEC下界值，则该TEC值为负异常值；如果大于参考背景TEC上界值，则该TEC值为正异常值。本发明的方法相比于传统的四分位距法在提取异常方面精度更高，而且计算量小，易于实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电离层 tec 异常 提取 方法 系统 | ||
【主权项】：
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