[发明专利]苹果冲击损伤面积的高光谱无损预测方法在审
| 申请号： | 202010111166.6 | 申请日： | 2020-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN111289463A | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 乔志霞;李蕊;赵倩;梁艳书;郭桂梅 | 申请（专利权）人： | 天津商业大学 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359;G01N21/84;G01N21/3563;G01L5/00;G01B5/26;G01M7/08 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 仝林叶 |
| 地址： | 300134 *** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种苹果冲击损伤面积的高光谱无损预测方法。本发明具体步骤包括：1)确定苹果样品的冲击损伤面积；2)提取苹果样品受损与未受损区域的平均光谱；3)光谱分析；4)建立苹果冲击损伤面积的预测模型。本发明能够快速、准确地实现对苹果冲击损伤面积的无损量化及预测，可为无损评估果实的机械损伤提供重要手段，也为高光谱成像技术应用于农产品领域提供借鉴。 | ||
| 搜索关键词： | 苹果 冲击 损伤 面积 光谱 无损 预测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津商业大学，未经天津商业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010111166.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种四柱塞空压机
- 下一篇：一种基于磁力的复杂模具设计及脱模方法
