[发明专利]用于化学机械平面化工具的垫、化学机械平面化工具和相关方法有效
申请号: | 202010079308.5 | 申请日: | 2020-02-03 |
公开(公告)号: | CN111515851B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | J·布雷松 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | B24B37/10 | 分类号: | B24B37/10;B24B37/30;B24B37/20;B24B37/24 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请案涉及用于化学机械平面化的工具的垫、化学机械平面化工具和相关方法。一种用于化学机械平面化的垫,其包括:材料,其具有主表面;及凹凸部,其从所述主表面延伸,所述凹凸部中的每一个的长度与宽度之间的比大于约2:1,且至少一些凹凸部的前导表面与所述主表面之间的夹角大于约90°。本发明还揭示相关垫,用于化学机械平面化的工具和相关方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 化学 机械 平面化 工具 相关 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010079308.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:警车的速度相关暗模式
- 下一篇:使用数据回归技术对校准数据的空中快刷和再现